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常见集成电路实用检测数据手册

常见集成电路实用检测数据手册
新书城图书编号:275367
图书ISBN:9787118050998
出版时间:2007-10-1
出版社:国防工业
作者:雷雨权
市场价格:¥150
普通会员:¥120    80
VIP会员:¥112.5   75
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【图书分类】
计算机图书>>IT综合
【图书简介】
本书重点介绍了常见的数千种集成电路在数千种型号的彩色电视机、VCD、DVD、摄录一体机、音响设备(含汽车音响)、收录机(随身听)、计算机、显示器、高档收音机、电话机等家电产品及电子仪器设备中的在路实测数据。 为了便于读者阅读和进行实际操作,本书在编写时按集成电路型号序列,分门别类进行介绍,同时在其实测数据表前对集成电路的用途、使用的检测仪表和被检测的机型作了简要的说明。
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【图书目录】
第一章 国内外常见集成电路型号的识别与命名方法
第一节 集成电路的分类、外形和引脚的识别方法
一、集成电路的分类
二、集成电路的外形识别
三、集成电路引脚的识别方法
(一)单列式集成电路引脚的识别方法
1.单列直插3脚、5脚的识别方法
2.单列直插7脚的识别方法
3.单列直插8脚及更多引脚的识别方法
(二)双列式集成电路引脚的识别方法
(三)四列式集成电路引脚的识别方法
(四)其它封装方式集成电路引脚的识别方法
1.菱形封装方式集成电路引脚的识别方法
2.金属管帽封装方式集成电路引脚的识别方法
第二节 各种集成电路生产厂家的识别
第三节 世界各国集成电路型号的命名与识别方法
一、国外集成电路型号的命名与识别方法
1.日本松下公司集成电路的命名(见表1-3-1)与识另.1方法
2.日本日立公司(HITACHI)集成电路的命名(见表1-3-4)与识别方法
3.日本东芝公司(TOSHIBA)集成电路的命名(见表1-3-5)与识别方法
4.日本三菱公司(MITSUBISHI)集成电路的命名与识别方法
5.日本三洋公司(SANY0)的命名(见表1-3-8)与识别方法
6.日本索尼公司(SONY)的命名与识别方法
7.日本电气公司(NECJ)/美国电子公司(NECE)的命名(见表1-3-13)与识别方法
8.美国无线电公司(RCA)的命名(见表1-3-14)与识别方法
9.美国摩托罗拉公司(MOTOROLA)的命名(见表1-3-15)与识别方法
10.美国国家半导体公司(NATIONAL SEMICONDUCTOR)的命名(见表1-3-16)与识别方法
11.美国英特锡尔公司(INTERSIL)的命名(见表1-3-17)与识别方法
12.美国仙童公司(FAIRCHILD)的命名(见表1-3-18)与识别方法
13.美国通用仪器公司(GENERAL INSTRUMENTS)的命名(见表1-3-19)与识别方法
14.美国模拟器件公司(ANALOG DEVICES)的命名(见表1-3-20)与识别方法
15.美国微功耗系统公司(MICRO POWZR SYTEMS)的命名(见表1-3-21)与识
别方法
16.美国西格尼蒂克公司(SIGNETICS)的命名(见表1-3-22)与识别方法
17.德国西门子公司(SIEMENS)的伞名(见表1-3-23)与识别方法
18.欧洲电子联盟(PROELECTRON)的命名(见表1-3-24)与识别方法
19.德国德律风根公司(TELEFUNKEN)的命名(见表1-3-25)与识别方法
20.意大利亚蒂斯电子元件公司(SGS-ATES SEMICONDUCTOR)的命名(见表1-3-26)与识别方法
二、我国集成电路型号的命名与识别方法
第二章 常见的A系列集成电路实用检测数据
第三章 常见的B系列集成电路实用检测数据
第四章 常见的C系列集成电路实用检测数据
第五章 常见的D系列集成电路实用检测数据
第六章 常见的E系列集成电路实用检测数据
第七章 常见的F系列集成电路实用检测数据
第八章 常见的G系列集成电路实用检测数据
第九章 常见的H系列集成电路实用检测数据
第十章 常见的I系列集成电路实用检测数据
第十一章 常见的J系列集成电路实用检测数据
第十二章 常见的K系列集成电路实用检测数据

第十三章 常见的L系列集成电路实用检测数据
第十四章 常见的M系列集成电路实用检测数据
第十五章 常见的N系列集成电路实用检测数据
第十六章 常见的O系列集成电路实用检测数据
第十七章 常见的P系列集成电路实用检测数据
第十八章 常见的R系列集成电路实用检测数据
第十九章 常见的S系列集成电路实用检测数据
第二十章 常见的T系列集成电路实用检测数据
第二十一章 常见的U系列集成电路实用检测数据
第二十二章 常见的V系列集成电路实用检测数据
第二十三章 常见的W系列集成电路实用检测数据
第二十四章 常见的X系列集成电路实用检测数据
第二十五章 常见的Z系列集成电路实用检测数据
第二十六章 常见的μ系列集成电路实用检测数据
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